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Luxoft und MicroVision: ADAS automatisiert testen
Luxoft hat sich mit MicroVision zusammengetan, um eine neue Generation von Test- und Simulationsumgebungen zu entwickeln.
Artikel von Klaus Oertel
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ST: Mehr Sicherheit für Qi-Ladesysteme
Das neue STSAFE-V-Sicherheitselement von ST sichert Boot- und Speichervorgänge und Softwareupdates ab.
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TASKING: Neuer Hardware-Debugger für Infineon TC4x-Familie
Tasking präsentiert den Hardware-Debugger iC7mini und die Entwicklungsumgebung SmartCode v10.2r1 für die Infineon TC4x-Familie.
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Rohm: Neue Laserdiode für höhere LiDAR-Auflösung
Die RLD90QZW8 von Rohm Semiconductor ermöglicht eine effiziente optische Ausgabe, die zu einer geringeren Stromaufnahme in LiDAR-Anwendungen beiträgt.
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Vector Informatik: Freeware-Tool zur Ausführung von Test Units
Mit dem neuen Tool Vector Test Unit Runner können automatisiert ausgeführt werden ohne dass ein Zugriff auf Vector Hardware benötigt wird.
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Neues Vector-Poster zur CAN-XL-Technologie
Mit dem Poster zur neuen CAN-XL-Technologie unterstützt Vector CAN-Technologieanwender. Es fasst wichtige technische Neuerungen kompakt und übersichtlich auf einen Blick zusammen.
Blogbeitrag
Poster über Automotive Wireless connectivity
Dieses Poster zeigt die wichtigsten Fahrzeugfunktionen und listet ihre zugehörigen drahtlosen Standards wie UWB, 5G, Bluetooth und DAB auf.
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Rohde & Schwarz: Leistungsmessköpfe für das D-Band
Die neuen Leistungsmessköpfe bieten im Frequenzbereich von 110 GHz bis 170 GHz eine vollständige Rückführbarkeit auf nationale Metrologieinstitute (NMI).
Technologie-Radar
Verbundprojekt DiRecReg: Batterien effizienter recyceln
Forschende des KIT entwickeln einen nachhaltigeren Recyclingprozess, um Materialien aus Lithium-Ionen-Batterien wirksamer wiederzuverwerten.
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NXP: System-Chip mit UWB-Lokalisierung und Nahbereichsradar
Trimension NCJ29D6A von NXP ist ein Automotive-UWB-Chip, der sichere Lokalisierung und Nahbereichsradar mit einer integrierten Prozessorarchitektur verbindet.