Rohde & Schwarz zeigt auf der PCIM Expo 2026 (vom 9. bis 11. Juni in Nürnberg) neue Test- und Messtechniklösungen für die Leistungselektronik. Im Mittelpunkt stehen Anwendungen für dreiphasige Leistungssysteme, elektrische Antriebe sowie Doppelpulstests von SiC- und GaN-Leistungsmodulen.
Neu vorgestellt wird die 3-Phasen-Leistungsanalyse-Option R&S MXO-K333 für die Oszilloskop-Serien MXO 3, 4 und 5/5C. Die Erweiterung ermöglicht die detaillierte Analyse dreiphasiger Wechselstromsysteme einschließlich Leistungsqualitäts-, Oberschwingungs- und Verzerrungsmessungen. Gleichzeitig bleiben die transienten Signalverläufe sichtbar, was eine direkte Ursachenanalyse erleichtert.
Darüber hinaus demonstriert Rohde & Schwarz mit dem Leistungsanalysator LMG671 die hochgenaue Wirkungsgrad- und Verlustleistungsmessung moderner elektrischer Antriebsstränge. Das System analysiert den Wechselrichterausgang getrennt nach Grundschwingungs-, Oberwellen- und Breitbandanteilen und ermöglicht so die Bestimmung zusätzlicher Parameter wie Hochfrequenzverluste. Der LMG671 ergänzt nach der Übernahme von ZES ZIMMER Electronic Systems das Leistungselektronik-Portfolio des Unternehmens.
Gemeinsam mit PE-Systems präsentiert Rohde & Schwarz zudem einen automatisierten Doppelpulstester für die Charakterisierung von SiC- und GaN-Leistungsmodulen. Die Lösung basiert auf dem MXO58-Oszilloskop mit acht Kanälen und dem isolierten Tastkopfsystem R&S RT-ZISO. Automatisierte Parameterextraktion und reproduzierbare Messabläufe sollen Entwicklungszeiten verkürzen und die Messgenauigkeit erhöhen. (oe)
