Fachberichte & White Paper
Fachartikel: Wie verbessert Künstliche Intelligenz Fahrerassistenzsysteme?
Der Artikel von Magna Electronics liefert eine fundierte Analyse darüber, wie KI Fahrerassistenzsysteme verbessert.
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Whitepaper: Die fünf größten Herausforderungen bei der SW-Entwicklung für Kfz-Mikrocontroller
Dieses Whitepaper von ETAS bietet Herstellern und Zulieferern Unterstützung bei der Neuorganisation ihrer Prozesse für die Entwicklung moderner Mikrocontroller-Software.
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Whitepaper: Post-Quantum Cryptographic – Migration Challenges for Embedded Devices
Das Whitepaper von NXP zur Post-Quanten-Kryptographie (PQC) bietet eine tiefgehende Analyse der Herausforderungen und Lösungsansätze bei der Implementierung von PQC auf eingebetteten Geräten.
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Fachartikel: Hardware-in-the-Loop-Systeme für Steuergeräte
In diesem Artikel von b-plus wird die zunehmende Bedeutung von HiL-Systemen und deren Anpassungsfähigkeit an die spezifischen Kundenanforderungen beleuchtet.
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Interview: „Correct by design“ ersetzt „correct by testing“
Das Interview mit Dr. Stefan Poledna von TTTech Auto,gibt interessante Einblicke in die Herausforderungen und Lösungen im Bereich der Software-definierten Fahrzeuge (SDVs).
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Fachbeitrag: Komponenten und ihre Ausfallraten beim autonomen Fahren
In diesem Beitrag werden die typischen Komponenten eines autonomen Fahrzeugs identifiziert und eine Übersicht über deren Ausfallwahrscheinlichkeiten gegeben.
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Interview: Release of Post-Quantum Cryptographic Standards is imminent
Das Interview unterstreicht die Dringlichkeit und Komplexität der Umstellung auf PQC und bietet gleichzeitig eine klare Roadmap für die nächsten Schritte.
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Fachbeitrag: Separation-Kernel als Alternative zum Hypervisor
Bei Safety oder Security-Anwendungen kann der Einsatz von Hypervisoren Einschränkungen, zusätzlichen Aufwand sowie Schwachstellen für Cyberangriffe mit sich bringen.
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Fachartikel: Generating Safe Fast-Charge Profiles for EV Batteries
Der Artikel von Mathworks bietet eine informative Einführung in die Entwicklung sicherer und robuster Schnellladeprofile für Elektrofahrzeugbatterien.
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Whitepaper: Debugging RISC-V Based Chips Made Easy
Das Whitepaper „Debugging RISC-V Based Chips Made Easy“ von Lauterbach bietet eine Analyse der Herausforderungen und Lösungen beim Debugging/Trace von RISC-V-basierten Chips.