Whitepaper: Debugging RISC-V Based Chips Made Easy

Lesezeit: 10 min.; Gesamtbewertung: ++++o; Technische Tiefe: Skilled; Zugang: frei; Sprache: engl.

© Lauterbach

Das Whitepaper „Debugging RISC-V Based Chips Made Easy“ von Lauterbach bietet eine Analyse der Herausforderungen und Lösungen beim Debugging/Trace von RISC-V-basierten Chips. Der Autor Frank Riemenschneider, Senior Marketing Engineer bei der Lauterbach GmbH, geht detailliert auf die speziellen Anforderungen und Komplexitäten ein, die mit der Entwicklung und Fehlersuche in RISC-V-Architekturen verbunden sind.

Zu Beginn des 5-seitigen Whitepapers gibt es eine Einführung in die RISC-V-Architektur und das aktuelle Marktumfeld mit verschiedenen Teilnehmern. Danach werden die spezifischen Herausforderungen beim Debugging von RISC-V-Systemen beschrieben. Dazu gehören die Vielfalt der Implementierungen, die unterschiedlichen Konfigurationen der Kerne und die Anpassbarkeit der ISA (Instruction Set Architecture). Diese Variabilität erfordere flexible und leistungsfähige Debugging-Werkzeuge, die in der Lage sind, sich an verschiedene Szenarien anzupassen, so der Autor.

Ferner stellt er die TRACE32-Debugging-Lösungen von Lauterbach vor, die in der Lage sind, sowohl Standard- als auch erweiterte RISC-V-Funktionen zu handhaben. Besonderes Augenmerk wird auf die Fähigkeit gelegt, erweiterte Debugging-Funktionen wie das Debuggen von Multi-Core-Systemen und das Echtzeit-Tracing von Programmen zu unterstützen.

Im letzten Abschnitt werden die beiden RISC-V-Trace Standards (N-Trace und E-Trace) vorgestellt und verglichen. Insgesamt bietet das Whitepaper einen tiefgehenden Einblick in die Welt des Debuggings/Tracing von RISC-V-basierten Chips. Der Autor zeigt auf, wie wichtig spezialisierte Debugging-Tools in der modernen Chip-Entwicklung sind und wie Lauterbachs TRACE32-Lösungen dazu beitragen können, die Herausforderungen in diesem Bereich zu meistern. (oe)

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