Bei modernen High-Speed-Digitaldesigns können Signalintegrität, Übertragungskanäle und geringe Designreserven die Entwicklung vor erhebliche Herausforderungen stellen. Treten Übertragungsprobleme auf, ist häufig zunächst unklar, ob die Ursache im Design oder in der Messtechnik liegt.
Ein praxisorientiertes Seminar von Keysight Technologies am 14. Oktober in München zeigt, wie sich solche Fehler systematisch untersuchen und deren Ursachen eingrenzen lassen. Im Mittelpunkt stehen High-Speed-Schnittstellen wie PCI Express, Ethernet und Automotive Ethernet.
Anhand realer Anwendungsbeispiele erläutern Experten unter anderem, warum stabile Datenverbindungen scheitern können und wie sich Beeinträchtigungen im Übertragungskanal mithilfe von Time Domain Reflectometry (TDR) lokalisieren lassen.
Ein weiterer Schwerpunkt liegt auf Messunsicherheiten. Dabei geht es um den Einfluss von Tastköpfen und Messaufbauten, De-Embedding sowie die Korrelation von Ergebnissen aus unterschiedlichen Laboren. Weitere Themen sind der Einfluss der Messumgebung auf das Messergebnis sowie die Bestimmung tatsächlicher Designreserven.
Das deutschsprachige Seminar richtet sich an Entwickler und Messtechniker, die High-Speed-Schnittstellen auslegen, analysieren und validieren. Der Austausch mit den Experten ist auch auf Englisch möglich. Die Teilnehmerzahl ist begrenzt. Für Verpflegung während der Veranstaltung ist gesorgt. (oe)
