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News Ticker
  • [ 23. Juni 2026 ] Microchip: European MASTERs Conference Branchen-News
  • [ 23. Juni 2026 ] Würth Elektronik: Nanokristalline EMI-Abschirmfolie News
  • [ 22. Juni 2026 ] Infineon: Cloudbasierte Plattform für MCU-Evaluierung Branchen-News
  • [ 22. Juni 2026 ] Microchip: Echtzeitregelung, PWM und Kommunikationsschnittstellen auf einem Chip News
  • [ 19. Juni 2026 ] Inova und StarIC validieren APXpress-Interconnect auf Siliziumebene Branchen-News
  • [ 19. Juni 2026 ] Valeo: Abschaltbare 48-Volt-Zweigang-E-Achse News
  • [ 19. Juni 2026 ] BMS erkennt Schäden an Batterien eigenständig Branchen-News
  • [ 18. Juni 2026 ] Renesas: Übernahme von Pictorus abgeschlossen Branchen-News
  • [ 18. Juni 2026 ] dSPACE: SiL-HiL-Co-Simulationslösung News
  • [ 18. Juni 2026 ] Rohm: MOSFETs für 48-V-Stromversorgungssysteme News
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Jahr: 2023

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Technologie-Radar

Referenzsystem zur hochpräzisen Sensorvalidierung

29. November 2023
Forschende des KIT und Partner entwickeln ein System, das die verlässliche und präzise Wahrnehmung der Umgebung autonomer Fahrzeuge sicherstellt.

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Blogbeitrag

Poster über Automotive Wireless connectivity

28. November 2023
Dieses Poster zeigt die wichtigsten Fahrzeugfunktionen und listet ihre zugehörigen drahtlosen Standards wie UWB, 5G, Bluetooth und DAB auf.

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News

Rohde & Schwarz: Leistungsmessköpfe für das D-Band

28. November 2023
Die neuen Leistungsmessköpfe bieten im Frequenzbereich von 110 GHz bis 170 GHz eine vollständige Rückführbarkeit auf nationale Metrologieinstitute (NMI).

[…]

Technologie-Radar

Verbundprojekt DiRecReg: Batterien effizienter recyceln

28. November 2023
Forschende des KIT entwickeln einen nachhaltigeren Recyclingprozess, um Materialien aus Lithium-Ionen-Batterien wirksamer wiederzuverwerten.

[…]

News

NXP: System-Chip mit UWB-Lokalisierung und Nahbereichsradar

28. November 2023
Trimension NCJ29D6A von NXP ist ein Automotive-UWB-Chip, der sichere Lokalisierung und Nahbereichsradar mit einer integrierten Prozessorarchitektur verbindet.

[…]

News

TDK: ASIL C-fähige 3D HAL-Sensoren mit Störfeldkompensation

28. November 2023
HAL 3930-4100 und HAR 3930-4100 sind präzise Hall-Effekt-Positionssensoren mit robuster Störfeldkompensation und PWM- oder SENT-Ausgangsschnittstellen.

[…]

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Technologie-Radar

Kooperatives Modelltraining für präzisere Voraussagen zur Batterielebensdauer

27. November 2023
Die Batterielebensdauer kann mittels künstlicher Intelligenz und Federated Learning vorhergesagt und in weiterer Folge optimiert werden.

[…]

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Branchen-News

VI-Grade: EDAG Group eröffnet Zero-Protoype-Labor mit seilgesteuertem Fahrsimulator

27. November 2023
Der Engineering-Dienstleister EDAG macht mit seinem bisher leistungsstärksten Fahrsimulator von VI-Grade einen weiteren Schritt in Richtung prototypenfreie Entwicklung.

[…]

News

understand.ai: Schnelleres Labeling von Sensordaten

27. November 2023
Mit einer kombinierten 2D- und 3D-Benutzeroberfläche kann man nun auf Informationen von verschiedenen Sensoren gleichzeitig zugreifen.

[…]

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Branchen-News

onsemi: Neues Applikationslabor für Elektrofahrzeuge

27. November 2023
Das Testlabor ist für die Weiterentwicklung von Systemlösungen für Batterie-/Plug-in-Hybrid-/Elektrofahrzeuge (xEVs) und Stromwandler konzipiert.

[…]

Seitennummerierung der Beiträge

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Medienspiegel

  • Whitepaper: Developer-Driven Testing in Automotive
    22. Juni 2026
  • Fachartikel: Integrierte GaN-Wandler – vier Hebel für leistungsfähigere Hochstromversorgungen
    15. Juni 2026
  • Blogbeitrag: Datenkonnektivität als Fundament des autonomen Fahrens
    11. Juni 2026
  • Applikationsbericht: So validiert GM Funktionen für das automatisierte Fahren
    26. Mai 2026
  • Whitepaper: The UI Kaleidoscope
    29. April 2026

News

Microchip: European MASTERs Conference

23. Juni 2026
Die Fachveranstaltung für Embedded-Entwickler findet vom 12. bis 15. Oktober 2026 statt und bietet über 80 technische Vorträge sowie praxisnahe Sessions zu Themen wie MCU-zu-MPU-Migration und 10BASE-T1S Single Pair Ethernet. […]

Weitere News

  • Whitepaper: Developer-Driven Testing in Automotive
    22. Juni 2026
  • Schaeffler: Weniger Steuergeräte, mehr Software
    22. Juni 2026
  • Kein Bild
    Infineon: Cloudbasierte Plattform für MCU-Evaluierung
    22. Juni 2026
  • Microchip: Echtzeitregelung, PWM und Kommunikationsschnittstellen auf einem Chip
    22. Juni 2026
  • Inova und StarIC validieren APXpress-Interconnect auf Siliziumebene
    19. Juni 2026

Beitragsarchiv

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