Forschende am Fraunhofer IZM haben sich in Zusammenarbeit mit dem European Center for Power Electronics (ECPE) mit den klimatischen Bedingungen in Elektronikgehäusen beschäftigt.
Sie haben anhand eines Solarwechselrichters gezeigt, dass die klimatischen Bedingungen in einem abgeschlossenen Gehäuse je nach Betrieb nicht konstant sind. Durch eine innere Temperaturverteilung, die sich aus der Verlustleistung der entsprechenden elektronischen Baugruppen ergibt, können sich wechselnde Mikroklimas in Gehäusen bilden.
Durch überlegtes Platzieren der sensitiven Bauteile haben Entwickler die Möglichkeit, ein funktionierendes, elektronisches System zu erzeugen, bei dem sich das Mikroklima im Gehäuse für die Anwendung der Elektronik lokal günstig ausprägt.
Das Projekt über eine Laufzeit von 18 Monaten hat gezeigt, dass das Simulationsmodell reale Verhalten sehr gut vorhersagen kann, und daß das Test-Kit des Fraunhofer IZM den Einfluss verschiedener Layout- und Materialoptimierungen von Gehäusen und elektronischen Komponenten eindeutig untersuchbar macht. Dieses Vorhaben kann auf diverse elektronische Bauteile und deren Gehäuse zur Analyse, Bewertung und Charakterisierung der Lebenszeitrelevanz überführt und bereits in der frühen Entwicklungs- und Konzipierungsphase angewendet werden. (jr)
