Siemens: Automatisierte DFT-Lösung für analoge IC-Schaltungsteile

Tessent AnalogTest ist die erste automatisierte DFT-Lösung für analoge Schaltungen in ICs, die digitale Vektoren für das Testen und die effiziente Berechnung der Testabdeckung vor dem Tape-Out für die Chipproduktion liefert. Die Lösung nutzt statt kostspieliger Mixed-Signal-Testgeräte digitale automatisierte Testgeräte (ATE) für die Entwicklung analoger Schaltungen. © Siemens

Zusammen mit der Tessent DefectSim-Technologie trägt die neue Tessent AnalogTest-Software von Siemens Digital Industries Software dazu bei, die Testprogrammierungszeit für analoge Schaltungen in ICs durch automatisch generierte Design-for-Test-Schaltungen und digitale Testmuster für nahezu jeden analogen Schaltungsblock erheblich zu verkürzen. Die Tests laufen auf fast jedem Testgerät in weniger als einer Millisekunde ab. In der Simulation kann die Fehlerabdeckung bis zu 100 Mal schneller überprüft werden als bei spezifikationsbasierten Tests.

Tessent AnalogTest ist die erste automatisierte DFT-Lösung für analoge Schaltungen in ICs, die digitale Vektoren für das Testen sowie eine effiziente Berechnung der Testabdeckung vor dem Tape-Out für die Chipproduktion liefert. Die Lösung nutzt digitale, automatisierte Testgeräte (ATE) für die Entwicklung analoger Schaltungen. Dadurch werden Kosten gesenkt und die Produktivität im Vergleich zur Verwendung kostspieligerer Mixed-Signal-Testgeräte gesteigert. Diese Beschleunigung ermöglicht es IC-Designern, innerhalb weniger Stunden eine hohe, an den IEEE-Standard P2427 angelehnte Fehlerabdeckung für einzelne Schaltblöcke (> 90 %) zu erreichen und zu überprüfen. Dadurch werden neue Geschwindigkeitsmaßstäbe gesetzt und die Markteinführungszeiten deutlich verkürzt.

Die Software erweitert auf besondere Weise die Möglichkeiten zur Erstellung struktureller Tests, indem sie auf der Grundlage von spezifikationsbasierten Tests auch Simulationsprüfstände erstellt und die intuitiven High-Level-ICL- und PDL-Testbeschreibungen gemäß IEEE P1687.2 verwendet. Letztere stellen eine analoge Erweiterung des weit verbreiteten digitalen IJTAG-Standards dar. Mithilfe dieser Tests können der analoge Testablauf und die Fehlerabdeckung für algorithmische Anpassungen, parametrische Top-up-Tests oder die Metriken der funktionalen Sicherheit gemäß ISO 26262 verifiziert werden. Durch die Einbettung der Scantests lassen sich diese Metriken weiter verbessern.

Tessent AnalogTest wird ab Dezember 2025 allgemein verfügbar sein und ist bereits bei ersten Partnern, darunter onsemi, im Einsatz. (jr)

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