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News Ticker
  • [ 24. Juni 2026 ] R&S-Poster: Automotive-Anwendungen nicht-terrestrischer Netze (NTN) Branchen-News
  • [ 23. Juni 2026 ] ATI: Analysesoftware für MDF4-Daten News
  • [ 23. Juni 2026 ] Microchip: European MASTERs Conference Branchen-News
  • [ 23. Juni 2026 ] Würth Elektronik: Nanokristalline EMI-Abschirmfolie News
  • [ 22. Juni 2026 ] Infineon: Cloudbasierte Plattform für MCU-Evaluierung Branchen-News
  • [ 22. Juni 2026 ] Microchip: Echtzeitregelung, PWM und Kommunikationsschnittstellen auf einem Chip News
  • [ 19. Juni 2026 ] Inova und StarIC validieren APXpress-Interconnect auf Siliziumebene Branchen-News
  • [ 19. Juni 2026 ] Valeo: Abschaltbare 48-Volt-Zweigang-E-Achse News
  • [ 19. Juni 2026 ] BMS erkennt Schäden an Batterien eigenständig Branchen-News
  • [ 18. Juni 2026 ] Renesas: Übernahme von Pictorus abgeschlossen Branchen-News
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StartseiteTest und Validierung

Test und Validierung

Medienspiegel

Webinar: Effiziente Code-Abdeckung und Safety-Zertifizierung

19. April 2026
Das Webinar von Lauterbach und Vector zeigt, wie mit TRACE32 und VectorCAST die Entwicklung sicherheitskritische Anwendungen beschleunigt werden kann.

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Branchen-News

Open House Germany 2026: Branchentreff für neue Teststrategien

31. März 2026
Das Open House Germany 2026 von IPG Automotive in Karlsruhe zeigte, wie stark sich die Fahrzeugentwicklung in Richtung durchgängiger virtueller Prozesse verschiebt.

[…]

Kein Bild
News

Vector: KI-gestützter, anforderungsbasierter Unit-Test-Generator

19. März 2026
Die neue Version der Testautomatisierungsplattform für Embedded Software VectorCAST bringt eine KI-gestützte automatische Erzeugung von Unit-Test aus Softwareanforderungen.

[…]

Medienspiegel

Fachbeitrag: Softwareentwicklung mit virtuellen Steuergeräten

19. März 2026
Shift Left in der Elektronikentwicklung: Virtuelle Steuergeräte als Enabler durchgängiger Debug-Workflows.

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Blogbeitrag

Blog: Absicherung von ADAS-Funktionen mit NVIDIA Omniverse NuRec

19. März 2026
dSPACE integriert NVIDIA Omniverse NuRec in seine ASM-Toolkette und ermöglicht die Generierung editierbarer digitaler Zwillinge aus realen Fahrdaten.

[…]

News

Synopsys: Entwicklungsumgebung für SDVs und physische KI-Systeme

12. März 2026
Die eDT-Plattform (Electronics Digital Twin) von Synopsys ist eine offene Lösung, mit der sich digitale elektronische Zwillinge, die das Verhalten von Elektronik widerspiegeln, schneller erstellen, verwalten, bereitstellen und nutzen lassen.

[…]

Kein Bild
Branchen-News

Anritsu: Zusammenarbeit mit Valeo bei Validierung digitaler SDV-Zwillinge

5. Februar 2026
Partner realisieren Cloud-basierte Validierungsplattform für Telematiksysteme und kombinieren dazu digitale Zwillinge von Telematik- und Mobilfunksystem.

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Fachberichte & White Paper

Fachbeitrag: Aufbau eines VIL-Simulators bei Toyota

15. Dezember 2025
Toyota nutzt einen Vehicle-in-the-Loop-Simulator zur ADAS-Erprobung. Reale Fahrzeuge, ein Fahrsimulator und virtuelle RoadRunner-Szenarien wurden dafür gekoppelt.

[…]

Blogbeitrag

Blog: Radarvalidierung mit automatisierter Pipeline

5. November 2025
Carrie Browen von Keysight stellt einen mit ESTECO, IPG Automotive und TNO entwickelten Ansatz zur Validierung von radarbasierten ADAS/AD-Funktionen.

[…]

Kein Bild
News

Vector und Lauterbach: Kombinierte Lösung für Code-Coverage-Messungen

23. September 2025
Gemeinsame Code-Coverage-Lösung beschleunigt erforderlichen Nachweis der Codeabdeckung bei Sicherheitsanwendungen.

[…]

Seitennummerierung der Beiträge

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Medienspiegel

  • Whitepaper: Developer-Driven Testing in Automotive
    22. Juni 2026
  • Fachartikel: Integrierte GaN-Wandler – vier Hebel für leistungsfähigere Hochstromversorgungen
    15. Juni 2026
  • Blogbeitrag: Datenkonnektivität als Fundament des autonomen Fahrens
    11. Juni 2026
  • Applikationsbericht: So validiert GM Funktionen für das automatisierte Fahren
    26. Mai 2026
  • Whitepaper: The UI Kaleidoscope
    29. April 2026

News

R&S-Poster: Automotive-Anwendungen nicht-terrestrischer Netze (NTN)

24. Juni 2026
Das Poster zeigt die neuen technischen Herausforderungen beim Einsatz von NTN für das stets vernetzte Fahrzeug sowie die Bedeutung von Tests. […]

Weitere News

  • Microchip: European MASTERs Conference
    23. Juni 2026
  • Würth Elektronik: Nanokristalline EMI-Abschirmfolie
    23. Juni 2026
  • Whitepaper: Developer-Driven Testing in Automotive
    22. Juni 2026
  • Schaeffler: Weniger Steuergeräte, mehr Software
    22. Juni 2026
  • Kein Bild
    Infineon: Cloudbasierte Plattform für MCU-Evaluierung
    22. Juni 2026

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