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IPG Automotive und Spirent sichern C-V2X-Konnektivität ab
Die Unternehmen integrieren eine Schnittstelle zwischen der C-V2X Testing Solution und der Integrations- und Testplattform CarMaker von IPG Automotive.
Produkt-News
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Rutronik: MOSFETs von PANJIT mit niedriger Durchlassspannung
Geringerer Widerstand, weniger Platzbedarf, größere Avalanche-Festigkeit: PANJITs neue 30 V und 40 V LV-Automotive-MOSFETs.
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Stellantis setzt auf Batteriewechsel-Lösung von Ample
Die Lösung soll den Tausch einer Batterie in wenigen Minuten in einer von Ample entwickelte Batteriewechselstation ermöglichen.
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AVX: Multilayer-Varistoren mit VW80808-Qualifizierung
Die Varistoren der VCAS-Serie die branchenweit ersten MLVs mit flexiblen Anschlüssen, die sowohl die AEC-Q200- als auch die VW80808-Normen erfüllen.
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Lauterbach: ARTI-Trace-Unterstützung für AURIX Microcontroller mit miniMCDS
Die TRACE32 Entwicklungstools unterstützen ab sofort ARTI-Echtzeit-Trace für AUTOSAR Profiling auch bei Infineon Serienproduktionsvarianten der MCs mit MultiCore Debug Solution.
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Hochwertige Trainingsdaten für KI-Systeme generieren
Testdaten können dank der CONiX Data Processing Solution von b-plus besser generiert und mit korrekten Labels versehen werden.
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e:fs TechHub: Vom Serienfahrzeug zum Testfahrzeug ohne großen Aufwand
Mit dem LeanDRA System kann vorhandene Hard- und Software genutzt werden, um automatisierte Fahrfunktionen zu entwickeln.
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Vitesco: Fahrzeug-Server für Antrieb, Fahrwerk und Laden
Der Master Controller leistet – anstelle vieler Einzel-ECU – alles, was ein Fahrzeug zum Fahren braucht.
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ST: KI-gestützte IMU für Always-on-Anwendungen
Die Trägheitsmesseinheit ASM330LHHXG1 von STMicroelectronics verbindet eingebaute KI-Funktionen mit Low-Power-Eigenschaften und einem Temperaturbereich bis 125 °C.
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Luxoft und MicroVision: ADAS automatisiert testen
Luxoft hat sich mit MicroVision zusammengetan, um eine neue Generation von Test- und Simulationsumgebungen zu entwickeln.